- 专利标题： PATTERN ANGLE SPATIAL SELECTION STRUCTURED ILLUMINATION IMAGING
-
申请号： EP19741108.5申请日： 2019-01-14
-
公开(公告)号： EP3628075A1公开(公告)日： 2020-04-01
- 发明人: NEWMAN, Peter, Clarke , CONDELLO, Danilo , LU, Shaoping , PRINCE, Simon , SIU, Merek, C. , HONG, Stanley, S. , LIU, Aaron
- 申请人： Illumina Inc.
- 申请人地址： 5200 Illumina Way San Diego, CA 92122 US
- 专利权人： Illumina Inc.
- 当前专利权人： Illumina Inc.
- 当前专利权人地址： 5200 Illumina Way San Diego, CA 92122 US
- 代理机构： Hylarides, Paul Jacques
- 优先权： US201862618059P 20180116; NL2020620 20180320
- 国际公布： WO2019143564 20190725
- 主分类号： G02B21/18
- IPC分类号： G02B21/18 ; G02B27/42
公开/授权文献
信息查询
IPC分类:
| G | 物理 |
| G02 | 光学 |
| G02B | 光学元件、系统或仪器 |
| G02B21/00 | 显微镜 |
| G02B21/18 | .具有多光路的布置，例如，用于比较两个试样 |
