发明公开
- 专利标题： X-RAY IMAGING REFERENCE SCAN
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申请号： EP18770036.4申请日： 2018-09-21
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公开(公告)号： EP3687403A1公开(公告)日： 2020-08-05
- 发明人: YAROSHENKO, Andriy , KOEHLER, Thomas , NOËL, Peter Benjamin Theodor , DE MARCO, Fabio , GROMANN, Lukas Benedict , WILLER, Konstantin
- 申请人： Koninklijke Philips N.V.
- 申请人地址： High Tech Campus 52 5656 AG Eindhoven NL
- 专利权人： Koninklijke Philips N.V.
- 当前专利权人： Koninklijke Philips N.V.
- 当前专利权人地址： High Tech Campus 52 5656 AG Eindhoven NL
- 代理机构： Philips Intellectual Property & Standards
- 优先权： EP17192846 20170925
- 国际公布： WO2019057915 20190328
- 主分类号： A61B6/00
- IPC分类号： A61B6/00
公开/授权文献
- EP3687403B1 X-RAY IMAGING REFERENCE SCAN 公开/授权日：2021-05-05
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