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    SOURCE-DETECTOR ARRANGEMENT
    2.
    发明公开
    SOURCE-DETECTOR ARRANGEMENT 审中-公开
    源探测器安排

    公开(公告)号：EP3217879A1

    公开(公告)日：2017-09-20

    申请号：EP15791642.0

    申请日：2015-11-10

    申请人： Koninklijke Philips N.V.

    发明人： KOEHLER, Thomas ,  ROESSL, Ewald ,  BEHLING, Rolf Karl Otto ,  NOËL, Peter Benjamin Theodor ,  PFEIFFER, Franz

    IPC分类号： A61B6/00 ,  A61B6/03 ,  H01J35/10 ,  H01J35/14 ,  G02B5/18

    摘要： The invention relates to a source-detector arrangement (11) of an X-ray apparatus (10) for grating based phase contrast computed tomography. The source-detector arrangement comprises an X-ray source (12) adapted for rotational movement around a rotation axis (R) relative to an object (140) and adapted for emittance of an X-ray beam of coherent or quasi-coherent radiation in a line pattern (21); and an X-ray detection system (16) including a first grating element (24) and a second grating element (26) and a detector element (6); wherein the line pattern of the radiation and a grating direction of the grating elements are arranged orthogonal to the rotation axis; and wherein the first grating element has a first grating pitch varied dependent on a cone angle (β) of the X-ray beam and/or the second grating element has a second grating pitch varied dependent on the cone angle of the X-ray beam.

    摘要翻译： 本发明涉及用于基于光栅的相位对比计算机断层摄影的X射线设备（10）的源 - 检测器布置（11）。 源 - 检测器装置包括适于相对于物体（140）围绕旋转轴线（R）旋转运动的X射线源（12），其适于发射相干或准相干辐射的X射线束 线图案（21）; 和包括第一光栅元件（24）和第二光栅元件（26）以及检测器元件（6）的X射线检测系统（16）; 其中所述辐射的线图案和所述光栅元件的光栅方向被布置为与所述旋转轴正交; 并且其中所述第一光栅元件具有依赖于所述X射线束的锥角（β）而变化的第一光栅间距和/或所述第二光栅元件具有依赖于所述X射线束的锥角而变化的第二光栅间距 。