发明公开
- 专利标题: APPARATUS, SYSTEM AND METHOD OF MONITORING AN ADDITIVE MANUFACTURING ENVIRONMENT
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申请号: EP18864262.3申请日: 2018-10-03
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公开(公告)号: EP3691871A2公开(公告)日: 2020-08-12
- 发明人: MACNEISH, William , GJOVIK, Erik
- 申请人: Jabil Inc.
- 申请人地址: 10560 Dr. Martin Luther King Jr. Street, N. St. Petersburg, Florida 33716 US
- 专利权人: Jabil Inc.
- 当前专利权人: Jabil Inc.
- 当前专利权人地址: 10560 Dr. Martin Luther King Jr. Street, N. St. Petersburg, Florida 33716 US
- 代理机构: Gulde & Partner
- 优先权: US201715723891 20171003
- 国际公布: WO2019070909 20190411
- 主分类号: B29C64/393
- IPC分类号: B29C64/393 ; G06Q50/04 ; B33Y50/02 ; B33Y10/00
公开/授权文献
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