- 专利标题： CIRCUIT, METHOD FOR SIZING AN ASPECT RATIO OF TRANSISTORS OF A CIRCUIT, AND CIRCUIT ARRANGEMENT
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申请号： EP19741821.3申请日： 2019-01-22
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公开(公告)号： EP3744004A1公开(公告)日： 2020-12-02
- 发明人: CHANG, Joseph Sylvester , CHONG, Kwen Siong , LWIN, Ne Kyaw Zwa , HARIHARAKRISHNAN, Sivaramakrishnan
- 申请人： Nanyang Technological University
- 申请人地址： 50 Nanyang Avenue Singapore 639798 SG
- 专利权人： Nanyang Technological University
- 当前专利权人： Nanyang Technological University
- 当前专利权人地址： 50 Nanyang Avenue Singapore 639798 SG
- 代理机构： Mewburn Ellis LLP
- 优先权： SG10201800549R 20180122
- 国际公布： WO2019143302 20190725
- 主分类号： H03K19/003
- IPC分类号： H03K19/003 ; H03K3/356
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