- 专利标题： MEMORY SUB-SYSTEM INCLUDING AN IN-PACKAGE SEQUENCER TO PERFORM ERROR CORRECTION AND MEMORY TESTING OPERATIONS
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申请号： EP19857911.2申请日： 2019-09-06
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公开(公告)号： EP3847550A1公开(公告)日： 2021-07-14
- 发明人: MITTAL, Samir , TAI, Ying Yu , WU, Cheng Yuan , ZHU, Jiangli
- 申请人： Micron Technology, Inc.
- 申请人地址： US Boise, ID 83716 8000 South Federal Way
- 代理机构： Granleese, Rhian Jane
- 优先权： US201816123911 20180906
- 国际公布： WO2020051528 20200312
- 主分类号： G06F11/10
- IPC分类号： G06F11/10 ; G06F11/22 ; G06F11/263
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