- 专利标题： SAMPLE THICKNESS MEASURING ARRANGEMENT AND METHOD FOR MEASURING A THICKNESS OF A SAMPLE AT CRYOGENIC TEMPERATURE BY INTERFEROMETRY USING A CRYOSTAT
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申请号： EP19772675.5申请日： 2019-09-13
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公开(公告)号： EP3853581A1公开(公告)日： 2021-07-28
- 发明人: CIPRIANI, Florent , PAPP, Gergely
- 申请人： European Molecular Biology Laboratory
- 申请人地址： DE 69117 Heidelberg Meyerhofstrasse 1
- 代理机构： Qip Patentanwälte Dr. Kuehn & Partner mbB
- 优先权： EP18195081 20180918
- 国际公布： WO2020058140 20200326
- 主分类号： G01N1/42
- IPC分类号： G01N1/42
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