发明公开
- 专利标题： PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE MESURE DE TEMPÉRATURE AU MOYEN D'UN MODULE PHOTOVOLTAÏQUE
- 专利标题（英）： METHOD AND SYSTEM FOR MEASURING TEMPERATURE BY MEANS OF A PHOTOVOLTAIC MODULE
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申请号： EP21197960.4申请日： 2021-09-21
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公开(公告)号： EP3974614A1公开(公告)日： 2022-03-30
- 发明人: CHAINTREUIL, Nicolas , RENZI, Virginie
- 申请人： Commissariat à l'Energie Atomique et aux Energies Alternatives , BHG
- 申请人地址： FR 75015 Paris Bâtiment "Le Ponant D" 25, rue Leblanc; FR 68220 Attenschwiller 24 rue de Paris
- 代理机构： Cabinet Beaumont
- 优先权： FR2009735 20200924
- 主分类号： E06B9/68
- IPC分类号： E06B9/68 ; G01K7/01 ; H02S40/40 ; E06B9/11 ; E06B9/24
摘要：
Procédé et système de mesure de température au moyen d'un module photovoltaïque
La présente description concerne un procédé de mesure de température dans un système comportant un module photovoltaïque et un dispositif électronique de contrôle, comprenant les étapes suivantes :
• a) mesurer (301) la tension en circuit ouvert V oc du module photovoltaïque ;
• b) mesurer (303) le courant de court-circuit I sc du module photovoltaïque ; et
• c) calculer (305), au moyen d'un dispositif électronique de contrôle, une valeur T représentative de la température du
module photovoltaïque, en fonction de la valeur de la tension en circuit ouvert V oc mesurée à l'étape a) et de la valeur du courant de court-circuit I sc mesurée à l'étape b).
La présente description concerne un procédé de mesure de température dans un système comportant un module photovoltaïque et un dispositif électronique de contrôle, comprenant les étapes suivantes :
• a) mesurer (301) la tension en circuit ouvert V oc du module photovoltaïque ;
• b) mesurer (303) le courant de court-circuit I sc du module photovoltaïque ; et
• c) calculer (305), au moyen d'un dispositif électronique de contrôle, une valeur T représentative de la température du
module photovoltaïque, en fonction de la valeur de la tension en circuit ouvert V oc mesurée à l'étape a) et de la valeur du courant de court-circuit I sc mesurée à l'étape b).
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