- 专利标题： X-RAY IMAGING SYSTEMS FOR REDUCING ARTEFACTS ASSOCIATED WITH ANTI-SCATTER GRITS AND METHODS OF OPERATING THE SAME
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申请号： EP21820276.0申请日： 2021-12-08
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公开(公告)号： EP4087487A1公开(公告)日： 2022-11-16
- 发明人: SINGH, Nishant , ENGEL, Klaus Jürgen , JACOBS, Johannes Wilhelmus Maria , MENSER, Bernd , MILLER, Lester Donald , VAN NIJNATTEN, Fred Simon Berend
- 申请人： Koninklijke Philips N.V.
- 申请人地址： NL 5656 AG Eindhoven High Tech Campus 52
- 代理机构： Philips Intellectual Property & Standards
- 优先权： EP20213697 20201214
- 国际公布： WO2022128654 20220623
- 主分类号： A61B6/00
- IPC分类号： A61B6/00
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