METHODS AND SYSTEMS TO DETERMINE SHAPES FOR SEMICONDUCTOR OR FLAT PANEL DISPLAY FABRICATION

发明公开

EP4205176A1 METHODS AND SYSTEMS TO DETERMINE SHAPES FOR SEMICONDUCTOR OR FLAT PANEL DISPLAY FABRICATION 审中-公开

专利标题： METHODS AND SYSTEMS TO DETERMINE SHAPES FOR SEMICONDUCTOR OR FLAT PANEL DISPLAY FABRICATION
申请号： EP21883608.8

申请日： 2021-10-15
公开(公告)号： EP4205176A1

公开(公告)日： 2023-07-05
发明人: FUJIMURA, Akira , SHIRALI, Nagesh , ORIORDAN, Donald
申请人： D2S, Inc.
申请人地址： US San Jose, CA 95117 4040 Moorpark Avenue Suite 250
代理机构： Appleyard Lees IP LLP
优先权： US202016949270 20201022
国际公布： WO2022086825 20220428
主分类号： H01L27/12
IPC分类号： H01L27/12 ; H01L29/786 ; H01L29/82

信息查询

Global Dossier Espacenet

IPC分类:

H	电学
H01	基本电气元件
H01L	半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件（使用半导体器件的测量入G01；一般电阻器入H01C；磁体、电感器、变压器入H01F；一般电容器入H01G；电解型器件入H01G9/00；电池组、蓄电池入H01M；波导管、谐振器或波导型线路入H01P；线路连接器、汇流器入H01R；受激发射器件入H01S；机电谐振器入H03H；扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R；一般电光源入H05B；印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K；在具有特殊应用的电路中使用的半导体器件见应用相关的小类）
H01L27/00	由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件（其零部件入H01L23/00，H01L29/00至H01L51/00；由多个单个固态器件组成的组装件入H01L25/00）
H01L27/02	.包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的；包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27/12	..其衬底为非半导体的，例如为绝缘体的