Invention Patent
- Patent Title: 計測装置
- Patent Title (English): Measuring device
- Patent Title (中): 测量工具
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Application No.: JP2015090203Application Date: 2015-04-27
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Publication No.: JP2015222250APublication Date: 2015-12-10
- Inventor: 杉原 裕明
- Applicant: シナノケンシ株式会社
- Applicant Address: 長野県上田市上丸子1078
- Assignee: シナノケンシ株式会社
- Current Assignee: シナノケンシ株式会社
- Current Assignee Address: 長野県上田市上丸子1078
- Agent アイアット国際特許業務法人
- Priority: JP2014094105 2014-04-30
- Main IPC: G01C15/00
- IPC: G01C15/00 ; G01B11/00
Abstract:
【課題】 光学的構成により高精度な測量装置を提供する。 【解決手段】 光学パターンを照射するパターン照射機と、照射された光学パターンを受像するパターン受像機とを有し、パターン受像機は、光学パターンを撮像して撮像データに変換するパターン撮像部を有し、変換された撮像データに基づいて、撮像部の位置または撮像部から既知の位置の三次元座標値を算出する点座標値算出部を有する。 【選択図】図1
Public/Granted literature
- JP6002275B2 計測装置 Public/Granted day:2016-10-05
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