Invention Patent
- Patent Title: 遠隔偏光測定装置および方法
- Patent Title (English): Remote polarization measurement device and method
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Application No.: JP2016558108Application Date: 2015-02-18
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Publication No.: JP2017512989APublication Date: 2017-05-25
- Inventor: マルティノ、アントネロ デ , マルティノ、アントネロ デ , パグノー、ドミニク , ヴィゼー、ジェレミー , マンハス、サンディープ , ヴァネル、ジャン−チャールズ , デビー、スタニシアス
- Applicant: セントレ ナショナル デ ラ ルシェルシェ サイエンティフィック−シーエヌアールエス , セントレ ナショナル デ ラ ルシェルシェ サイエンティフィック−シーエヌアールエス , エコール ポリテクニック , エコール ポリテクニック
- Assignee: セントレ ナショナル デ ラ ルシェルシェ サイエンティフィック−シーエヌアールエス,セントレ ナショナル デ ラ ルシェルシェ サイエンティフィック−シーエヌアールエス,エコール ポリテクニック,エコール ポリテクニック
- Current Assignee: セントレ ナショナル デ ラ ルシェルシェ サイエンティフィック−シーエヌアールエス,セントレ ナショナル デ ラ ルシェルシェ サイエンティフィック−シーエヌアールエス,エコール ポリテクニック,エコール ポリテクニック
- Priority: FR1452244 2014-03-18
- Main IPC: G01N21/21
- IPC: G01N21/21 ; A61B1/00
Abstract:
【解決手段】試料(S)の遠隔偏光測定装置(100)に関する。本装置は第1波長(λE)の入射光波の光源(10)と、入射光波が伝搬するためのシングルモード光ファイバ(30)と、光ファイバの近位側に偏光状態生成器(PSG)および偏光状態解析器(PSA)と、遠位側に反射板(40)とを備える。PSAは、PSGが生成した入射波の各プローブ状態に関し、入射波が光ファイバ(30)中を伝搬し、光ファイバの遠位側で反射し、光ファイバ(30)中を逆向きに伝搬した後に得られる光波の偏光状態を解析することができる。処理手段(70)は、光ファイバの第1偏光測定から、光ファイバに関するミュラー行列(MF)を決定し、光ファイバと試料とを含む集合体の第2偏光測定から、集合体に関するミュラー行列(MT)を決定することができる。試料に関するミュラー行列(MO)が、光ファイバに関するミュラー行列と、集合体に関する行列とから決定される。【選択図】図3
Public/Granted literature
- JP6599352B2 遠隔偏光測定装置および方法 Public/Granted day:2019-10-30
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