Invention Patent

  • Patent Title: 測量装置
  • Patent Title (English): SURVEYING DEVICE
  • Application No.: JP2017149838
    Application Date: 2017-08-02
  • Publication No.: JP2019027988A
    Publication Date: 2019-02-21
  • Inventor: NISHIDA NOBUYUKI
  • Applicant: TOPCON CORP
  • Assignee: TOPCON CORP
  • Current Assignee: TOPCON CORP
  • Priority: JP2017149838 2017-08-02
  • Main IPC: G01C9/00
  • IPC: G01C9/00
測量装置
Abstract:
【課題】測量装置における傾斜角の精度の低下を抑える技術を得る。【解決手段】光学測量による測距部110を備え、水平回転を行う回転部と、前記回転部の前記水平回転の回転角を検出する水平角検出器101と、前記回転部の鉛直方向に対する傾きを検出する傾斜センサ103と、前記回転部の回転の前後における前記水平回転角検出センサ101の検出値に基づき、前記回転部の傾きを算出するチルト傾斜量算出部124とを備えるTS(トータルステーション)100。【選択図】図2
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