Invention Patent
- Patent Title: 光干渉眼寸法測定装置
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Application No.: JP2014030201Application Date: 2014-02-20
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Publication No.: JP6465551B2Publication Date: 2019-02-06
- Inventor: 加藤 千比呂 , 大河内 克将
- Applicant: 株式会社トーメーコーポレーション
- Applicant Address: 愛知県名古屋市西区則武新町二丁目11番33号
- Assignee: 株式会社トーメーコーポレーション
- Current Assignee: 株式会社トーメーコーポレーション
- Current Assignee Address: 愛知県名古屋市西区則武新町二丁目11番33号
- Main IPC: A61B3/10
- IPC: A61B3/10
Public/Granted literature
- JP2015154802A 眼寸法測定装置 Public/Granted day:2015-08-27
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