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公开(公告)号：JP2020024222A
公开(公告)日：2020-02-13
申请号：JP2019200496
申请日：2019-11-05
Applicant: 株式会社トーメーコーポレーション
Inventor： ジェイロン イー.エム. フランク , 原 直子 , 大森 努 , 加藤 千比呂
Abstract: 【課題】光コヒーレンストモグラフィ装置(OCT)用の光干渉ユニットにおいて干渉ノイズを軽減する。 【解決手段】OCT100の光干渉ユニットは干渉計と検出モジュール114とを有する。その干渉計は、光ビームを試料用の測定光と参照光とに分割する第1カプラ103と、 それから出射した参照光と試料からの反射光とがいずれも入射して互いに干渉するように構成される第2カプラ112と、それらカプラの一端部同士を接続する第1接続ファイバー伝送体105,116,113と、2つのカプラの他端部同士を接続する第2接続ファイバー伝送体111と、第1接続ファイバー伝送体の途中にある光学素子117と、その光学素子と第2カプラとの間を延びる第1ファイバー経路118と、光学素子と第2カプラとの間を延びる第2ファイバー経路119であって第1ファイバー経路の長さに対して予め定められた関係を有する長さを有するものとを有する。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JP6618101B1
公开(公告)日：2019-12-11
申请号：JP2019165788
申请日：2019-09-12
Applicant: 株式会社トーメーコーポレーション
Inventor： ジェイロン イー.エム. フランク , 原 直子 , 大森 努 , 加藤 千比呂
IPC: G01N21/17
Abstract: 【課題】光コヒーレンストモグラフィ装置(OCT)において干渉ノイズを軽減する。 【解決手段】OCT100は、光源101からの光ビームを、試料用の測定光と参照光とに分割する第1カプラ103と、 それから出射した参照光と試料からの反射光とがいずれも入射して互いに干渉するように構成される第2カプラ112と、2つのカプラの一端部同士を接続する第1接続ファイバー伝送体105,116,113と、2つのカプラの他端部同士を接続する第2接続ファイバー伝送体111と、第1接続ファイバー伝送体の途中にある光学素子117と、2つのカプラと2つの接続ファイバー伝送体と光学素子とを用いて構成される干渉計とを含む。干渉計は、光学素子と第2カプラとを互いに接続する第1ファイバー118とそれとは別の第2ファイバー119とを含み、第1ファイバーは、第2ファイバーとは異なる長さを有する。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JP6465551B2
公开(公告)日：2019-02-06
申请号：JP2014030201
申请日：2014-02-20
Applicant: 株式会社トーメーコーポレーション
IPC: A61B3/10
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公开(公告)号：JP2018063136A
公开(公告)日：2018-04-19
申请号：JP2016200568
申请日：2016-10-12
Applicant: 株式会社トーメーコーポレーション
IPC: G01M11/02
Abstract: 【課題】被検レンズの測定位置を示すターゲットマーク内に、測定光束内の少なくとも2つの異なる位置の屈折力を識別可能な屈折力マップを表示して、被検レンズの測定位置(遠用部、累進部および近用部の位置)を正確に把握することができるレンズメータを提供すること。 【解決手段】CMOSイメージセンサー26の受光面に結像した結像点31a、31b、31cおよび31dをもとに仮想結像点41a、41b、42b、42d、43c、43d、44aおよび44cを想定して、測定位置において、上下左右の4つの領域の屈折力Dio0、Dio1、Dio2、およびDio3を算出してモニタ102に表示するターゲットマップマーク130内の屈折力マップとして表示するようにした。 【選択図】図9
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP2018031764A
公开(公告)日：2018-03-01
申请号：JP2017037963
申请日：2017-03-01
Applicant: 株式会社トーメーコーポレーション
IPC: G01M11/00
Abstract: 【課題】測定した被検レンズの屈折力の値に応じて、モニタに表示するターゲットパターンのピッチを拡大或いは縮小制御することを可能にし、常に最適な条件で被検レンズの隠しマークを視認可能なレンズメータを提供することを目的とする。 【解決手段】測定した被検レンズ18の屈折力の値をメモリ106に記憶し、記憶した屈折力の値に基づいてターゲットパターンのピッチを決定してモニタ102に表示するようにした。 【選択図】図6
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公开(公告)号：JP2017055889A
公开(公告)日：2017-03-23
申请号：JP2015181790
申请日：2015-09-15
Applicant: 株式会社トーメーコーポレーション
IPC: A61B3/16
Abstract: 【課題】被検眼から飛散した涙がノズル内に流入することを防止し、かつ、被検眼に放出する空気を制御して患者の負担を低減可能な非接触式眼圧計を提供する。 【解決手段】シリンダー215内の空気をピストン216により圧縮してノズル205から被検眼に向けて吹付ける非接触式眼圧計に於いて、シリンダー215とノズル205との間に少なくとも1つの弁218と少なくとも1つの大気に開放する開口部217からなる空気路変更手段を備え、弁218が「閉」の時は開口部217が大気に開放してシリンダー215内に空気を送り込むと同時にシリンダー215とノズル205間を遮断するように構成した。 【選択図】図2
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公开(公告)号：JP2016198668A
公开(公告)日：2016-12-01
申请号：JP2016175324
申请日：2016-09-08
Applicant: 株式会社トーメーコーポレーション
IPC: A61B3/10
Abstract: 【課題】 水晶体から充分な強度の反射光を観察することができ、水晶体の位置を精度良く特定することができる眼科装置を提供する。 【解決手段】 本願の眼科装置は、光源12と、光源からの光を被検眼の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系(24,28,34,30,40,46,48)と、光源からの光を参照面に照射すると共にその反射光を導く参照光学系(24,22)と、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた反射光とが合成された干渉光を受光する受光素子26と、受光素子で受光される干渉光から、被検眼内部の測定対象部位の位置を特定する演算装置とを有している。そして、測定光学系は、被検眼に照射される光の被検眼への入射角を被検眼の視軸に対して所定の角度範囲で変更する入射角度変更手段46を有している。 【選択図】 図1
Abstract translation: A可以从透镜观察足够强度的反射光，以提供该透镜的位置能够准确地确定的眼科设备。 眼科装置的应用包括：光源12，用于从在眼睛内部的光源的反射光与所述光导光学测量系统（24,28,34,30,40,46,48） 具有用于反射光与来自光源到参考表面（24,22）的导光基准光学系统，和由基准光学系统和由该光学测量系统引导的反射光导引的反射光合成 和要被检查的光接收元件26，用于从由光接收元件所接收的干扰光接收干涉光，以及用于指定内眼的测定对象部位的位置的运算单元。 测定光学系统具有入射角度变更装置46用于改变入射角的预定角度范围的被检眼照射到眼睛相对于所述眼睛的视轴的光的。 点域1
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公开(公告)号：JP5946654B2
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：JP2012046858
申请日：2012-03-02
Applicant: 株式会社トーメーコーポレーション
IPC: A61B3/10
CPC classification number: A61B3/0008 , A61B3/1005 , A61B3/102 , A61B3/12
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公开(公告)号：JP2016030026A
公开(公告)日：2016-03-07
申请号：JP2014153097
申请日：2014-07-28
Applicant: 株式会社トーメーコーポレーション
IPC: A61B3/10
Abstract: 【課題】 より一層安定して被検眼内部の測定対象部位の位置を正確に特定することが可能となり、さらには、より信頼性の高いデータを得ることが可能となる眼科装置を提供する。 【解決手段】 本願の眼科装置は、参照光学系の光路長と測定光学系の光路長とが同一となるゼロ点からの光路長が第1の光路長となる第1光路部と、ゼロ点からの光路長が第2の光路長となる第2光路部とを有する較正光学系において、第1光路部の光路長は、ゼロ点から測定対象部位のゼロ点に最も近い第1部位の位置までの光路長より短く、第2光路部の光路長は、ゼロ点から測定対象部位のゼロ点に最も遠い第2部位の位置までの光路長より長くなるように設定されている。 【選択図】 図1
Abstract translation: 要解决的问题：提供能够进一步稳定和精确地指定被检眼内的测量对象部位的位置的眼科装置，从而能够提供高可靠性的数据。解决方案：根据本申请的眼科装置包括校准 光学系统包括：第一光路，其中从参考光学系统的光程长度与测量光学系统的光程长度相同的零点的光路长度为第一光程长度; 以及从零点开始的光路长度成为第二光程长度的第二光路。 在校准光学系统中，将第一光路的光路长度设定为短于从零点到最靠近测量对象位置的零点的第一位置的位置的光路长度。 第二光路的光路长度被设定为比从零点到最远到测量对象位置的零点的第二位置的位置的光路长度长。选择的图示：图1
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