Invention Patent
- Patent Title: 測定用ソケット
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Application No.: JP2020131719Application Date: 2020-08-03
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Publication No.: JP6853597B1Publication Date: 2021-03-31
- Inventor: 扇浦 徹哉
- Applicant: 株式会社SDK
- Applicant Address: 神奈川県横浜市戸塚区川上町90−6 東戸塚ウエストビル7F
- Assignee: 株式会社SDK
- Current Assignee: 株式会社SDK
- Current Assignee Address: 神奈川県横浜市戸塚区川上町90−6 東戸塚ウエストビル7F
- Agent 大窪 克之; 野村 一郎
- Main IPC: H01R33/76
- IPC: H01R33/76 ; G01R31/26
Abstract:
【課題】電子光学部品を正確に位置決めして確実な導通および光軸合わせを行うことができる測定用ソケットを提供すること。 【解決手段】本発明の一態様は、電子光学部品を測定対象とする測定用ソケットであって、電子光学部品を収容する凹部を有するベースと、ベースに被せられるカバーと、電子光学部品を基準壁に押し当てるための押圧部材と、押圧部材の動作を開始するタイミングを調整するタイミング調整部材と、を備え、電子光学部品が凹部に収容された状態において、カバーが閉じる動作に基づいてタイミング調整部材によって押圧部材が押圧され、電子光学部品が基準壁に押し当てられる測定用ソケットである。 【選択図】図1
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