Invention Patent
- Patent Title: 測定システム
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Application No.: JP2018064099Application Date: 2018-03-29
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Publication No.: JP6986265B2Publication Date: 2021-12-22
- Inventor: 大石 義彦 , 河合 秀樹
- Applicant: 国立大学法人室蘭工業大学
- Applicant Address: 北海道室蘭市水元町27番1号
- Assignee: 国立大学法人室蘭工業大学
- Current Assignee: 国立大学法人室蘭工業大学
- Current Assignee Address: 北海道室蘭市水元町27番1号
- Agent 木村 満; 武山 敦史; 太田 清子; 森川 泰司
- Priority: JP2017120303 2017-06-20
- Main IPC: G01N11/08
- IPC: G01N11/08 ; G01P5/00 ; G01L1/00
Public/Granted literature
- JP2019007939A 測定システム Public/Granted day:2019-01-17
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