发明授权
- 专利标题: 고분자 필름의 금속 이온 투과도 측정 방법 및 고분자 필름의 금속 이온 투과도 측정 장치
- 专利标题(英): Method for measuring metal ion permeability of polymer film and apparatus for measuring metal ion permeability of polymer film
- 专利标题(中): 测量聚合物膜的金属离子性能的方法
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申请号: KR1020160011282申请日: 2016-01-29
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公开(公告)号: KR101761891B1公开(公告)日: 2017-08-04
- 发明人: 김영국 , 김정학 , 김희정 , 김세라 , 조정호 , 이광주 , 남승희 , 한지호
- 申请人: 주식회사 엘지화학
- 申请人地址: ***, Yeoui-daero, Yeongdeungpo-gu, Seoul, Republic of Korea
- 专利权人: 주식회사 엘지화학
- 当前专利权人: 주식회사 엘지화학
- 当前专利权人地址: ***, Yeoui-daero, Yeongdeungpo-gu, Seoul, Republic of Korea
- 代理商 유미특허법인
- 优先权: KR1020150014306 2015-01-29; KR1020150014307 2015-01-29
- 主分类号: G01N27/04
- IPC分类号: G01N27/04 ; G01N27/447
摘要:
본발명은, 고분자필름의적어도일면을금속이온, 유기용매및 수계용매를포함한전해액과접촉시킨상태에서상기고분자필름으로전압을가해주는단계; 및상기전압이가해진이후상기고분자필름의시간에따른저항의변화율또는전류의변화율을측정하는단계;를포함하는, 고분자필름의금속이온투과도측정방법및 이의측정에이용되는고분자필름의금속이온투과도측정장치에관한것이다.
公开/授权文献
- KR1020160093566A 고분자 필름의 금속 이온 투과도 측정 방법 및 고분자 필름의 금속 이온 투과도 측정 장치 公开/授权日:2016-08-08
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