发明授权
- 专利标题: 기판 처리 방법
- 专利标题(英): KR101886742B1 - Substrate processing method
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申请号: KR1020110139178申请日: 2011-12-21
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公开(公告)号: KR101886742B1公开(公告)日: 2018-08-08
- 发明人: 니시무라에이치
- 申请人: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤
- 申请人地址: *-* Akasaka *-chome, Minato-ku, Tokyo, Japan
- 专利权人: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤
- 当前专利权人: 도쿄엘렉트론가부시키가이샤
- 当前专利权人地址: *-* Akasaka *-chome, Minato-ku, Tokyo, Japan
- 代理商 특허법인엠에이피에스
- 优先权: JPJP-P-2010-287595 2010-12-24
- 主分类号: H01L21/3065
- IPC分类号: H01L21/3065
摘要:
할로겐가스를이용하지않고구리부재의에칭레이트를높일수 있는기판처리방법을제공한다. 기판처리장치(10)에있어서, 원활화된표면(50)을가지는 Cu층(40)을얻은후, 수소가스에메탄가스를첨가한처리가스를처리실(15)의내부공간으로도입하고, 이처리가스로부터플라즈마를발생시켜산화층(42)의에칭시에발생한산소래디칼(52), 및메탄으로부터발생한탄소래디칼(53)을처리실(15)의내부공간에존재시키고, 산소래디칼(52) 또는탄소래디칼(53)로부터유기산을생성하고, 이유기산을 Cu층(40)의구리원자와반응시켜구리원자를포함한유기산의착체를생성하고, 또한이 생성된착체를증발시킨다.
公开/授权文献
- KR1020120073118A 기판 처리 방법 公开/授权日:2012-07-04
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