发明授权
- 专利标题: 레지스트 재료 및 패턴 형성 방법
- 专利标题(英): KR101920165B1 - Resist composition and patterning process
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申请号: KR1020170119730申请日: 2017-09-18
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公开(公告)号: KR101920165B1公开(公告)日: 2018-11-19
- 发明人: 하타케야마준 , 오하시마사키
- 申请人: 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤
- 申请人地址: 일본 도꾜도 지요다꾸 오떼마치 *쪼메 *방 *고
- 专利权人: 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤
- 当前专利权人: 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤
- 当前专利权人地址: 일본 도꾜도 지요다꾸 오떼마치 *쪼메 *방 *고
- 代理商 김진회; 김태홍
- 优先权: JPJP-P-2016-183025 2016-09-20
- 主分类号: G03F7/004
- IPC分类号: G03F7/004 ; G03F7/039 ; G03F7/038 ; G03F7/20
摘要:
본발명은, 증감효과가높고, 산확산을억제하는효과도가지며, 해상성, LWR, CDU가양호한레지스트재료및 이것을이용하는패턴형성방법을제공하는것을목적으로한다. 상기과제는, 베이스폴리머와, 요오드화방향족기를갖는카르복실산의, 2,5,8,9-테트라아자-1-포스파비시클로[3.3.3]운데칸염, 비구아니드염 또는포스파젠염을포함하는레지스트재료에의해해결된다.
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