发明专利
TW201327740A 具有增強型熱能管理之半導體晶粒總成,包含該半導體晶粒總成之半導體裝置及其相關方法
审中-公开
具有增强型热能管理之半导体晶粒总成,包含该半导体晶粒总成之半导体设备及其相关方法
- 专利标题: 具有增強型熱能管理之半導體晶粒總成,包含該半導體晶粒總成之半導體裝置及其相關方法
- 专利标题(英): Semiconductor die assemblies with enhanced thermal management, semiconductor devices including same and related methods
- 专利标题(中): 具有增强型热能管理之半导体晶粒总成,包含该半导体晶粒总成之半导体设备及其相关方法
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申请号: TW101142514申请日: 2012-11-14
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公开(公告)号: TW201327740A公开(公告)日: 2013-07-01
- 发明人: 羅時劍 , LUO, SHIJIAN , 李曉 , LI, XIAO , 李健 , LI, JIAN
- 申请人: 美光科技公司 , MICRON TECHNOLOGY, INC.
- 专利权人: 美光科技公司,MICRON TECHNOLOGY, INC.
- 当前专利权人: 美光科技公司,MICRON TECHNOLOGY, INC.
- 代理商 陳長文
- 优先权: 61/559,659 20111114;61/559,664 20111114;13/613,235 20120913
- 主分类号: H01L23/34
- IPC分类号: H01L23/34 ; H01L25/04
摘要:
本發明揭示一種半導體晶粒總成,其包括在一堆疊中之複數個半導體晶粒。另一半導體晶粒鄰近該堆疊並且具有一區域,該區域可包括周邊延伸越出該堆疊的一相對較高功率密度區域。傳導元件在該堆疊中之半導體晶粒與該另一半導體晶粒之間延伸並且電互連該堆疊中之半導體晶粒及該另一半導體晶粒的積體電路。熱能柱插入於該堆疊之半導體晶粒之間,並且諸如一蓋之一熱量耗散結構與該堆疊之一最上晶粒及該另一半導體晶粒之該高功率密度區域接觸。亦揭示其他晶粒總成、半導體裝置及管理一半導體晶粒總成內之熱量傳送的方法。
公开/授权文献
- TWI515845B 具有增強型熱能管理之半導體晶粒總成,包含該半導體晶粒總成之半導體裝置及其相關方法 公开/授权日:2016-01-01
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