Invention Patent
- Patent Title: 相位偵測自動對焦技術
- Patent Title (English): Phase detection autofocus techniques
- Patent Title (中): 相位侦测自动对焦技术
-
Application No.: TW105132755Application Date: 2016-10-11
-
Publication No.: TW201725713APublication Date: 2017-07-16
- Inventor: 許文義 , HSU, WEN-I , 楊敦年 , YAUNG, DUN-NIAN , 洪豐基 , HUNG, FENG-CHI , 周耕宇 , CHOU, KENG-YU
- Applicant: 台灣積體電路製造股份有限公司 , TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING COMPANY LTD.
- Applicant Address: 新竹市
- Assignee: 台灣積體電路製造股份有限公司,TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING COMPANY LTD.
- Current Assignee: 台灣積體電路製造股份有限公司,TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING COMPANY LTD.
- Current Assignee Address: 新竹市
- Agent 陳長文; 馮博生
- Priority: 14/883,849 20151015
- Main IPC: H01L27/146
- IPC: H01L27/146
Abstract:
本揭露係關於具有自動對焦功能之一影像感測器及相關聯方法。在某些實施例中,積體電路具有:一光電二極體陣列,其具有放置於一半導體基板內之複數個光電二極體;及一複合柵格,其上覆於該光電二極體陣列且具有垂直延伸穿過該複合柵格之第一複數個開口及第二複數個開口。該積體電路進一步具有:一影像感測像素陣列,其具有放置於該第一複數個開口中之複數個彩色濾光器。該積體電路進一步具有:一相位偵測像素陣列,其具有複數個相位偵測組件,該複數個相位偵測組件小於該複數個彩色濾光器且具有帶有小於該複數個彩色濾光器之一折射率(n)之一折射率之一低折射率(低n)材料,其中該等相位偵測組件放置於該第二複數個開口中。
Information query
IPC分类: