发明专利
- 专利标题： 具有一探針裝置之測試系統及轉位機構
- 专利标题（英）： Test systems with a probe apparatus and index mechanism
- 专利标题（中）： 具有一探针设备之测试系统及转位机构
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申请号： TW101124557申请日： 2012-07-06
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公开(公告)号： TWI572872B公开(公告)日： 2017-03-01
- 发明人: 魯特 布萊安J , ROOT, BRYAN J. , 方克 威廉A , FUNK, WILLIAM A. , 鄧克理 約翰L , DUNKLEE, JOHN L.
- 申请人： 色拉頓系統公司 , CELADON SYSTEMS, INC.
- 专利权人： 色拉頓系統公司,CELADON SYSTEMS, INC.
- 当前专利权人： 色拉頓系統公司,CELADON SYSTEMS, INC.
- 代理商 陳長文
- 优先权： 61/504,907 20110706;61/592,760 20120131
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28
公开/授权文献
- TW201307871A 具有一探針裝置之測試系統及轉位機構 公开/授权日：2013-02-16
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