- 专利标题： System and method for checking and characterizing snapshot metadata using snapshot metadata database
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申请号： US15354984申请日： 2016-11-17
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公开(公告)号： US10802927B2公开(公告)日： 2020-10-13
- 发明人: Cheng Li , Li Ding , Bret Needle , Mayank Rawat
- 申请人： VMware, Inc.
- 申请人地址： US CA Palo Alto
- 专利权人： VMware, Inc.
- 当前专利权人： VMware, Inc.
- 当前专利权人地址： US CA Palo Alto
- 代理机构： Loza & Loza, LLP
- 主分类号： G06F16/00
- IPC分类号： G06F16/00 ; G06F11/14 ; G06F16/11
摘要：
System and method for checking and characterizing metadata of snapshots utilize a snapshot metadata database to execute at least one of checking and characterizing operations on the metadata of snapshots. The snapshot metadata database includes information extracted from backing storage elements containing the metadata of snapshots.
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