发明申请
US20050133785A1 Device and method for detecting the overheating of a semiconductor device
审中-公开
用于检测半导体器件过热的装置和方法
- 专利标题： Device and method for detecting the overheating of a semiconductor device
- 专利标题（中）： 用于检测半导体器件过热的装置和方法
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申请号： US10995529申请日： 2004-11-24
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公开(公告)号： US20050133785A1公开(公告)日： 2005-06-23
- 发明人: Georg Eggers , Norbert Wirth , Herbert Benzinger , Thomas Huber
- 申请人： Georg Eggers , Norbert Wirth , Herbert Benzinger , Thomas Huber
- 申请人地址： DE Munich
- 专利权人： Infineon Technologies AG
- 当前专利权人： Infineon Technologies AG
- 当前专利权人地址： DE Munich
- 优先权： DE10355333.9 20031127
- 主分类号： G01K7/01
- IPC分类号： G01K7/01 ; G01K7/22 ; H01L23/58 ; G01R31/26
摘要：
The invention relates to a method and a device (1, 11, 21) for detecting the overheating of a semiconductor device, comprising a temperature measuring means (3, 13, 23) that changes its electrical conductivity when the temperature of the semiconductor device changes.
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