发明申请
- 专利标题： Method for analyzing organic light-emitting device
- 专利标题（中）： 分析有机发光装置的方法
-
申请号： US11090140申请日： 2005-03-28
-
公开(公告)号： US20050285618A1公开(公告)日： 2005-12-29
- 发明人: Jou-hahn Lee , Hyun-jun Shin , Jong-sun Lim , Ha-jin Song
- 申请人： Jou-hahn Lee , Hyun-jun Shin , Jong-sun Lim , Ha-jin Song
- 申请人地址： KR Gyeonggi-do
- 专利权人： Samsung Electronics Co., Ltd.
- 当前专利权人： Samsung Electronics Co., Ltd.
- 当前专利权人地址： KR Gyeonggi-do
- 优先权： KR10-2004-0048665 20040626
- 主分类号： H05B33/00
- IPC分类号： H05B33/00 ; G01R31/00 ; G01R31/26 ; H05B33/10
摘要：
Provided is a method for analyzing the performance of an OLED through activation in-situ. The method includes placing the OLED in an in-situ chamber, driving the OLED, and analyzing a dark spot and/or thermal degradation of the OLED, such that performance of the OLED can be analyzed while driving the OLED in-situ, separated from the external environment.
公开/授权文献
- US07148719B2 Method for analyzing organic light-emitting device 公开/授权日：2006-12-12
信息查询
