发明申请
US20070016835A1 Method and apparatus for parameter adjustment, testing, and configuration
审中-公开
用于参数调整，测试和配置的方法和装置
- 专利标题： Method and apparatus for parameter adjustment, testing, and configuration
- 专利标题（中）： 用于参数调整，测试和配置的方法和装置
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申请号： US11395602申请日： 2006-03-31
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公开(公告)号： US20070016835A1公开(公告)日： 2007-01-18
- 发明人: Stanley Hronik , Robert James , Michael Miller
- 申请人： Stanley Hronik , Robert James , Michael Miller
- 申请人地址： US CA San Jose
- 专利权人： Integrated Device Technology, Inc.
- 当前专利权人： Integrated Device Technology, Inc.
- 当前专利权人地址： US CA San Jose
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28
摘要：
A method and apparatus for parameter monitoring, adjustment, testing, and/or configuration of devices have been disclosed.
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