发明申请
- 专利标题： X-RAY DIAGNOSIS APPARATUS
- 专利标题（中）： X射线诊断装置
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申请号： US11539544申请日： 2006-10-06
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公开(公告)号： US20070211851A1公开(公告)日： 2007-09-13
- 发明人: Kenichi Ogawa
- 申请人： Kenichi Ogawa
- 申请人地址： JP Tokyo
- 专利权人： KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
- 当前专利权人： KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
- 当前专利权人地址： JP Tokyo
- 优先权： JP2002-198148 20020708
- 主分类号： A61B6/02
- IPC分类号： A61B6/02 ; G21K1/04 ; G21K3/00
摘要：
An X-ray diagnosis apparatus is configured to control at least one of the X-ray diaphragm which restricts the irradiation range of the X-ray and the compensation filter which attenuates the amount of the X-ray based on at least one of the rotation position or the position parallel to the body axis of the X-ray source.
公开/授权文献
- US07336768B2 X-ray diagnosis apparatus 公开/授权日：2008-02-26
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