发明申请
- 专利标题： APPARATUS FOR TESTING A MEMORY OF AN INTEGRATED CIRCUIT
- 专利标题（中）： 用于测试集成电路存储器的装置
-
申请号： US11875009申请日： 2007-10-19
-
公开(公告)号： US20080037340A1公开(公告)日： 2008-02-14
- 发明人: Michael Ouellette , Jeremy Rowland
- 申请人： Michael Ouellette , Jeremy Rowland
- 申请人地址： US NY Armonk 10504
- 专利权人： INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION
- 当前专利权人： INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION
- 当前专利权人地址： US NY Armonk 10504
- 主分类号： G11C29/00
- IPC分类号： G11C29/00
摘要：
An apparatus for testing a memory of an integrated circuit for a defect. The apparatus includes a test unit for testing a redundant memory element only when the redundant memory element has been enabled to replace a failed memory element.
公开/授权文献
- US07474575B2 Apparatus for testing a memory of an integrated circuit 公开/授权日：2009-01-06
信息查询
