发明申请
- 专利标题： PARALLEL ION MASS AND ION MOBILITY ANALYSIS
- 专利标题（中）： 并行离子质量和离子移动分析
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申请号： US13792043申请日： 2013-03-09
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公开(公告)号： US20130187037A1公开(公告)日： 2013-07-25
- 发明人: Ching Wu , Clinton Alawn Krueger , Anthony Joseph Midey, JR. , Mark A. Osgood
- 申请人： Excellims Corporation
- 申请人地址： US MA Acton
- 专利权人： Excellims Corporation
- 当前专利权人： Excellims Corporation
- 当前专利权人地址： US MA Acton
- 主分类号： H01J49/00
- IPC分类号： H01J49/00
摘要：
The present invention relates to a parallel IMS and MS measurement method where a sample flow is split and delivered to an IMS and a MS in parallel. A parallel acquisition MS/IMS method is used to supplement LC-MS and or MS data by using a synchronized MS/IMS acquisition.
公开/授权文献
- US08785848B2 Parallel ion mass and ion mobility analysis 公开/授权日：2014-07-22
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