发明申请
- 专利标题： PROBE APPARATUS AND METHOD
- 专利标题（中）： 探测器和方法
-
申请号： US13447021申请日： 2012-04-13
-
公开(公告)号： US20130271172A1公开(公告)日： 2013-10-17
- 发明人: Norman J. Armendariz , Kay Chan Tong
- 申请人： Norman J. Armendariz , Kay Chan Tong
- 申请人地址： US TX Dallas
- 专利权人： TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED
- 当前专利权人： TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED
- 当前专利权人地址： US TX Dallas
- 主分类号： G01R1/067
- IPC分类号： G01R1/067
摘要：
A probe tip may include a plurality of spaced projections adapted to contact the input/output lands of an integrated circuit device.