发明申请
US20130290798A1 Systems and Methods for Short Media Defect Detection Using Non-Binary Coded Information
有权
使用非二进制编码信息进行短介质缺陷检测的系统和方法
- 专利标题： Systems and Methods for Short Media Defect Detection Using Non-Binary Coded Information
- 专利标题（中）： 使用非二进制编码信息进行短介质缺陷检测的系统和方法
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申请号： US13459289申请日： 2012-04-30
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公开(公告)号： US20130290798A1公开(公告)日： 2013-10-31
- 发明人: Fan Zhang , Weijun Tan , Haitao Xia , Shaohua Yang , Xuebin Wu , Wu Chang
- 申请人： Fan Zhang , Weijun Tan , Haitao Xia , Shaohua Yang , Xuebin Wu , Wu Chang
- 专利权人： LSI Corporation
- 当前专利权人： LSI Corporation
- 主分类号： G11C29/04
- IPC分类号： G11C29/04 ; G06F11/16
摘要：
Various embodiments of the present invention provide systems and methods for media defect detection.
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