发明申请
- 专利标题： Systems and Methods for Material Texture Analysis
- 专利标题（中）： 材料纹理分析的系统和方法
-
申请号： US14299063申请日： 2014-06-09
-
公开(公告)号： US20150109431A1公开(公告)日： 2015-04-23
- 发明人: Stuart I. Wright , Matthew M. Nowell , Peter A. de Kloe , Travis Michael Rampton , Patrick Paul Camus
- 申请人： EDAX, MATERIALS ANALYSIS DIVISION OF AMETEK INC.
- 主分类号： G01N23/203
- IPC分类号： G01N23/203 ; G06K9/62 ; G06K9/46 ; H01J37/244 ; H01J37/28
摘要：
The present inventions are related to systems and methods for determining characteristics of a material. The characteristics may include, but are not limited to, crystallographic texture.
信息查询
