公开(公告)号：US20150109431A1

公开(公告)日：2015-04-23

申请号：US14299063

申请日：2014-06-09

申请人： EDAX, MATERIALS ANALYSIS DIVISION OF AMETEK INC.

发明人： Stuart I. Wright ,  Matthew M. Nowell ,  Peter A. de Kloe ,  Travis Michael Rampton ,  Patrick Paul Camus

IPC分类号： G01N23/203 ,  G06K9/62 ,  G06K9/46 ,  H01J37/244 ,  H01J37/28

CPC分类号： G06K9/6202 ,  G01N23/2251 ,  G01N2223/606 ,  G06K9/4604 ,  H01J37/244 ,  H01J37/28 ,  H01J2237/221 ,  H01J2237/24571 ,  H01J2237/24585 ,  H01J2237/255

摘要： The present inventions are related to systems and methods for determining characteristics of a material. The characteristics may include, but are not limited to, crystallographic texture.

摘要翻译： 本发明涉及用于确定材料特性的系统和方法。 特征可以包括但不限于晶体学结构。