发明公开
- 专利标题： DETECTION PROBE, PROBE MICROSCOPE, AND SAMPLE TEMPERATURE MEASURING METHOD
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申请号： US18567158申请日： 2022-02-03
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公开(公告)号： US20240280606A1公开(公告)日： 2024-08-22
- 发明人: Masanari KOGUCHI
- 申请人： Hitachi, Ltd.
- 申请人地址： JP Chiyoda-ku, Tokyo
- 专利权人： Hitachi, Ltd.
- 当前专利权人： Hitachi, Ltd.
- 当前专利权人地址： JP Chiyoda-ku, Tokyo
- 优先权： JP 21128519 2021.08.04
- 国际申请： PCT/JP2022/004333 2022.02.03
- 进入国家日期： 2023-12-05
- 主分类号： G01Q30/02
- IPC分类号： G01Q30/02 ; G01Q70/14
摘要：
Between a nitrogen-vacancy center and a support portion, a cut-off portion is provided that cuts off the nitrogen-vacancy center from the support portion.
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