发明授权 US2354545A Optical exposure meter 失效 标题翻译： 光学曝光仪 基本信息 请登陆查看更多内容 基本信息 请登陆查看更多内容 Optical exposure meter 专利标题： Optical exposure meter 专利标题（中）： 光学曝光仪 申请号： US49385143 申请日： 1943-07-08 公开(公告)号： US2354545A 公开(公告)日： 1944-07-25 发明人: KARL RATH 申请人： KARL RATH 专利权人： Rath Karl 当前专利权人： Rath Karl 优先权： US49385143 1943-07-08 主分类号： G01J1/14 IPC分类号： G01J1/14 信息查询 Espacenet IPC分类: G 物理 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法 G01J1/00 光度测定法，例如照相的曝光表（分光光度测定法入G01J3/00；专用于辐射高温测定法的入G01J5/00） G01J1/10 .采用与基准光或基准电参数相比较的方法 G01J1/12 ..完全采用视觉的方法（G01J1/20优先） G01J1/14 ...采用与不同级别亮度的表面作比较的方法
