发明授权
- 专利标题： Symmetrical dual-grid strain gaging
- 专利标题（中）： 对称双格应变测量
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申请号： US40193664申请日： 1964-10-06
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公开(公告)号： US3303450A公开(公告)日： 1967-02-07
- 发明人: BRACKETT JR ANTHONY H , FRITH LAWRENCE J
- 申请人： BLH ELECTRONICS
- 专利权人： Blh Electronics
- 当前专利权人： Blh Electronics
- 优先权： US40193664 1964-10-06
- 主分类号： F02D41/30
- IPC分类号： F02D41/30 ; F02M1/00 ; F02M23/06 ; F02M29/04 ; G01L1/22
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