发明授权
- 专利标题： Multiple probe gage system
- 专利标题（中）： 多探头量具系统
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申请号： US898831申请日： 1978-04-21
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公开(公告)号： US4181958A公开(公告)日： 1980-01-01
- 发明人: Richard O. Juengel , Kenneth J. Cook
- 申请人： Richard O. Juengel , Kenneth J. Cook
- 申请人地址： MI Oak Park
- 专利权人： The Valeron Corporation
- 当前专利权人： The Valeron Corporation
- 当前专利权人地址： MI Oak Park
- 主分类号： G08C15/06
- IPC分类号： G08C15/06 ; G01B7/287 ; G01D21/00 ; G01B7/12
摘要：
A multiple probe gage system wherein the analog output signal of a plurality of probes is successively sampled, digitized and stored. The stored information is then digitally processed by a microprocessor to produce a digital signal which is a function of the analog output signals of selected probes.
公开/授权文献
- US5907346A Method and apparatus for thermal recording 公开/授权日：1999-05-25