发明授权
- 专利标题： Testing laminates with x-ray moire interferometry
- 专利标题（中）： 用x射线莫尔干涉测量法测试层压板
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申请号： US774731申请日： 1996-12-30
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公开(公告)号： US6013355A公开(公告)日： 2000-01-11
- 发明人: William Tze-You Chen , Douglas Howard Strope , Natalie Barbara Feilchenfeld , Yifan Guo , George Dean Ogden
- 申请人： William Tze-You Chen , Douglas Howard Strope , Natalie Barbara Feilchenfeld , Yifan Guo , George Dean Ogden
- 申请人地址： NY Armonk
- 专利权人： International Business Machines Corp.
- 当前专利权人： International Business Machines Corp.
- 当前专利权人地址： NY Armonk
- 主分类号： B32B7/02
- IPC分类号： B32B7/02 ; H01L21/66 ; H05K3/00 ; H05K3/46 ; B32B3/00 ; H01L23/29
摘要：
Registration of the layers in a multilayer electronic device is tested and measured by X-ray moire interferometry.
公开/授权文献
- US4631369A Distributor for an internal combustion engine 公开/授权日：1986-12-23
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