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发明授权
US07557415B2 Trench isolation type semiconductor device and related method of manufacture 有权
沟槽隔离型半导体器件及相关制造方法

Trench isolation type semiconductor device and related method of manufacture
摘要：
A semiconductor device and related method of manufacture are disclosed. The device comprises; a trench having a corner portion formed in the semiconductor substrate, a first oxide film formed on an inner wall of the trench and having an upper end portion exposing the corner portion of the semiconductor substrate, a nitride liner formed on the first oxide film, a second oxide film formed in contact with the upper end of the first oxide film and on the exposed corner portion and an upper surface of the semiconductor substrate, a field insulating film formed on the nitride liner to substantially fill the trench, and a field protecting film formed in contact with the second oxide film and filling a trench edge recess formed between the field insulating film and the second oxide film.
摘要（中）：

公开了一种半导体器件及其制造方法。 该装置包括： 具有形成在所述半导体衬底中的角部的沟槽，形成在所述沟槽的内壁上并具有暴露所述半导体衬底的角部的上端部的第一氧化膜，形成在所述第一氧化物膜上的氮化物衬垫， 与第一氧化物膜的上端接触形成的第二氧化物膜，暴露的角部和半导体衬底的上表面，形成在氮化物衬垫上以基本上填充沟槽的场绝缘膜，以及场保护膜 形成为与第二氧化物膜接触并填充形成在场绝缘膜和第二氧化物膜之间的沟槽边缘凹陷。

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IPC分类:
H 电学
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件（使用半导体器件的测量入G01；一般电阻器入H01C；磁体、电感器、变压器入H01F；一般电容器入H01G；电解型器件入H01G9/00；电池组、蓄电池入H01M；波导管、谐振器或波导型线路入H01P；线路连接器、汇流器入H01R；受激发射器件入H01S；机电谐振器入H03H；扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R；一般电光源入H05B；印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K；在具有特殊应用的电路中使用的半导体器件见应用相关的小类）
H01L29/00 专门适用于整流、放大、振荡或切换，并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的半导体器件；具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒，例如PN结耗尽层或载流子集结层的电容器或电阻器；半导体本体或其电极的零部件（H01L31/00至H01L47/00，H01L51/05优先；除半导体或其电极之外的零部件入H01L23/00；由在一个共用衬底内或其上形成的多个固态组件组成的器件入H01L27/00）
H01L29/66 .按半导体器件的类型区分的
H01L29/86 ..只能通过对一个或多个通有待整流，放大、振荡或切换的电流的电极供给电流的变化或施加电位的变化方可进行控制的（H01L29/96优先）
H01L29/92 ...有电位跃变势垒或表面势垒的电容器
H01L29/94 ....金属—绝缘体—半导体，例如MOS
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