利索-全球专利检索

  1. 登录
  2. 注册
发明授权
US07603084B2 Method and apparatus for DC offset calibration 有权
用于直流偏移校准的方法和装置

  • 专利标题： Method and apparatus for DC offset calibration
  • 专利标题（中）： 用于直流偏移校准的方法和装置
  • 申请号： US11347817
    申请日： 2006-02-03
  • 公开(公告)号： US07603084B2
    公开(公告)日： 2009-10-13
  • 发明人: Turgut Aytur
  • 申请人： Turgut Aytur
  • 申请人地址： US CA Irvine
  • 专利权人： Wionics Technologies, Inc.
  • 当前专利权人： Wionics Technologies, Inc.
  • 当前专利权人地址： US CA Irvine
  • 代理机构： Tyrean LLC
  • 代理商 Thaddeus Gabara
  • 主分类号： H04B1/00
  • IPC分类号： H04B1/00
Method and apparatus for DC offset calibration
摘要：
A variable amplifier with adjustable current to correct for DC offset. The variable amplifier includes a zero function, allowing for zeroing of some amplifiers in an amplifier chain during correction for DC offset of another amplifier in an amplifier chain. In some embodiments selectable current injection is provided to an amplifier chain in conjunction with signals from selectable mixers.
摘要（中）：

具有可调电流的可变放大器，用于校正直流偏移。 可变放大器包括零功能，允许在放大器链中的另一放大器的DC偏移校正期间对放大器链中的一些放大器进行归零。 在一些实施例中，可选择的电流注入结合来自可选择的混频器的信号提供给放大器链。

公开/授权文献
信息查询
Espacenet
0/0