发明授权
- 专利标题： Scan chain diagnostics using logic paths
- 专利标题（中）： 使用逻辑路径进行扫描链诊断
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申请号： US11687003申请日： 2007-03-16
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公开(公告)号： US07895487B2公开(公告)日： 2011-02-22
- 发明人: Leendert M. Huisman , Leah M. Pastel
- 申请人： Leendert M. Huisman , Leah M. Pastel
- 申请人地址： US NY Armonk
- 专利权人： International Business Machines Corporation
- 当前专利权人： International Business Machines Corporation
- 当前专利权人地址： US NY Armonk
- 代理机构： Schmeiser, Olson & Watts
- 代理商 Michael J. LeStrange
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28 ; G06F11/00
摘要：
A structure and method for optimzing scan chain fail disgnosis. First, logic paths from target latches in a target scan chain to observation latches in at least one other observation scan chain are identified. Then, the locations of the observation latches within the other scan chains are optimized.
公开/授权文献
- US20070168805A1 SCAN CHAIN DIAGNOSTICS USING LOGIC PATHS 公开/授权日：2007-07-19
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