发明授权
- 专利标题： Surface plasmon-enhanced fluorescence measuring apparatus
- 专利标题（中）： 表面等离子体增强荧光测定装置
-
申请号： US13499760申请日： 2010-09-25
-
公开(公告)号： US09255883B2公开(公告)日： 2016-02-09
- 发明人: Masataka Matsuo , Yukito Nakamura , Naoki Hikage
- 申请人： Masataka Matsuo , Yukito Nakamura , Naoki Hikage
- 申请人地址： JP
- 专利权人： KONICA MINOLTA, INC.
- 当前专利权人： KONICA MINOLTA, INC.
- 当前专利权人地址： JP
- 代理机构： Cantor Colburn LLP
- 优先权： JP2009-231226 20091005
- 国际申请： PCT/JP2010/066609 WO 20100925
- 国际公布： WO2011/043202 WO 20110414
- 主分类号： G02B26/10
- IPC分类号： G02B26/10 ; G02B26/00 ; G01N21/55 ; G01N21/552 ; G01N21/64 ; G01N21/89
摘要：
Provided is an apparatus having a beam geometry changing device that changes the beam geometry of excitation light, and a control device that controls the beam geometry changing device, with favorable precision, which the apparatus performs a resonance angle scan and to detect a target material.
公开/授权文献
信息查询
