外观设计
- 专利标题： Electron microscope
-
申请号： US29356738申请日： 2010-03-02
-
公开(公告)号： USD626579S1公开(公告)日： 2010-11-02
- 设计人: Mitsuru Oonuma , Akira Omachi , Masahiko Ajima , Tomohisa Ohtaki
- 申请人： Mitsuru Oonuma , Akira Omachi , Masahiko Ajima , Tomohisa Ohtaki
- 申请人地址： JP Tokyo
- 专利权人： Hitachi High-Technologies Corporation
- 当前专利权人： Hitachi High-Technologies Corporation
- 当前专利权人地址： JP Tokyo
- 代理机构： Antonelli, Terry, Stout & Kraus, LLP.
- 优先权： JP2009-022637 20090930
- LOC分类号： 16-06
信息查询
