发明申请
WO2002078144A1 半導体装置及び結晶成長方法 审中-公开
半导体器件和晶体生长方法

  • 专利标题: 半導体装置及び結晶成長方法
  • 专利标题(英): Semiconductor device and method of crystal growth
  • 专利标题(中): 半导体器件和晶体生长方法
  • 申请号: PCT/JP2002/002739
    申请日: 2002-03-22
  • 公开(公告)号: WO2002078144A1
    公开(公告)日: 2002-10-03
  • 发明人: 高橋 幸司
  • 申请人: シャープ株式会社高橋 幸司
  • 申请人地址: 〒545-8522 大阪府 大阪市 阿倍野区長池町22番22号 Osaka JP
  • 专利权人: シャープ株式会社,高橋 幸司
  • 当前专利权人: シャープ株式会社,高橋 幸司
  • 当前专利权人地址: 〒545-8522 大阪府 大阪市 阿倍野区長池町22番22号 Osaka JP
  • 代理机构: 青山 葆
  • 优先权: JP2001-88935 200103027; JP2001-237560 20010806
  • 主分类号: H01S5/323
  • IPC分类号: H01S5/323
半導体装置及び結晶成長方法
摘要:
A semiconductor laser device (100), characterized in that it has, as its well layer, a III-V compound semiconductor layer (106) comprising nitrogen, antimony and one or more V Group elements except nitrogen and antimony as the V Group components thereof; and a method for crystal growth for forming the III-V compound semiconductor layer, characterized in that it comprises a step comprising supplying a plurality of materials including indium simultaneously and a step comprising supplying a plurality of materials including antimony and excluding indium simultaneously, and the two steps are repeatedly carried out.
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