Invention Application
- Patent Title: 光ファイバ母材のコア部非円率測定方法
- Patent Title (English): Method for measuring non-circularity at core portion of optical fiber parent material
- Patent Title (中): 用于测量光纤母材的核心部分的非圆形的方法
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Application No.: PCT/JP2005/023410Application Date: 2005-12-20
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Publication No.: WO2006090524A1Publication Date: 2006-08-31
- Inventor: 飛坂 優二 , 乙坂 哲也 , 小山田 浩
- Applicant: 信越化学工業株式会社 , 飛坂 優二 , 乙坂 哲也 , 小山田 浩
- Applicant Address: 〒1000004 東京都千代田区大手町二丁目6番1号 Tokyo JP
- Assignee: 信越化学工業株式会社,飛坂 優二,乙坂 哲也,小山田 浩
- Current Assignee: 信越化学工業株式会社,飛坂 優二,乙坂 哲也,小山田 浩
- Current Assignee Address: 〒1000004 東京都千代田区大手町二丁目6番1号 Tokyo JP
- Agency: 龍華 明裕
- Priority: JP2005-045329 20050222
- Main IPC: G01B11/08
- IPC: G01B11/08 ; G01B11/24 ; G01M11/00
Abstract:
光ファイバ母材1のコア部の非円率を測定する方法であって、コア部の中心軸と直交する方向からマッチングオイル3に浸漬させた光ファイバ母材1に光を照射しながら、中心軸と平行な方向に光ファイバ母材1を移動させ、光のうちコア部を透過した透過光の幅の変化を光ファイバ母材1の移動量と関連付けて記録して、光ファイバ母材1の長手方向に関するコア部の相対外径値分布を得る相対外径値分布測定手順を含み、中心軸の回りに光ファイバ母材1を所定の回転角度まで回転させる毎に相対外径値分布測定手順を実行し、回転角度に関連付けられた複数の相対外径値分布を記録する相対外径値分布蓄積手順と、相対外径値分布蓄積手順において蓄積された複数の相対外径値分布に基づいて、光ファイバ母材1の長手方向についてコア部の複数の非円率を算出する非円率算出手順とを備える。
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