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WO2010140621A1 半導体光検出素子及び半導体光検出素子の製造方法 审中-公开
半导体光检测元件及其制造方法

半導体光検出素子及び半導体光検出素子の製造方法
Abstract:
 フォトダイオードPD1は、第1導電型の半導体領域と第2導電型の半導体領域とで形成されたpn接合を有するn - 型半導体基板1を備えている。n - 型半導体基板1には、n - 型半導体基板1の第2主面1b側にアキュムレーション層7が形成されていると共に、第1主面1a及び第2主面1bにおける少なくともpn接合に対向する領域に不規則な凹凸10が形成されている。n - 型半導体基板1の第1主面1a及び第2主面1bにおけるpn接合に対向する領域は、光学的に露出している。
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