L'invention vise un procédé de sélection d'un équipement électronique comprenant au moins un composant électronique (101), ledit équipement électronique étant potentiellement soumis à des conditions d'irradiation listées dans un cahier des charges prédéterminé, le procédé comportant une phase de caractérisation d'un paramètre de sensibilité du composant électronique (101) à ces conditions d'irradiation, cette phase comprenant : une étape 210 d'irradiation du composant électronique (101) par une source de rayonnements ionisants (100) aux caractéristiques et à la géométrie d'irradiation connues, une étape 220 de mesure d'un ensemble de valeurs de fonctionnement du composant électronique (101) lors de cette étape d'irradiation, ledit procédé étant caractérisé en ce que : l'étape d'irradiation comporte des mesures de sensibilité du composant électronique (101) pour un nombre de conditions d'irradiation inférieur à l'ensemble des conditions listées dans le cahier des charges, le procédé comporte en outre une étape 240 d'extrapolation des résultats mesurés aux autres conditions d'irradiation du cahier des charges.