Invention Application
- Patent Title: センサ装置
- Patent Title (English): Sensor device
- Patent Title (中): 传感器设备
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Application No.: PCT/JP2012/078156Application Date: 2012-10-31
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Publication No.: WO2013065731A1Publication Date: 2013-05-10
- Inventor: 増田 雄治
- Applicant: 京セラ株式会社
- Applicant Address: 〒6128501 京都府京都市伏見区竹田鳥羽殿町6番地 Kyoto JP
- Assignee: 京セラ株式会社
- Current Assignee: 京セラ株式会社
- Current Assignee Address: 〒6128501 京都府京都市伏見区竹田鳥羽殿町6番地 Kyoto JP
- Priority: JP2011-239320 20111031
- Main IPC: H01L31/12
- IPC: H01L31/12 ; G01J1/02 ; G01N21/47 ; H01L27/15
Abstract:
【課題】光検出精度の優れたセンサ装置を提供する。 【解決手段】一導電型の半導体材料から成り、一主面(2A)に並列に位置する第1領域(2a)および第2領域(2b)を有する基板(2)と、第1領域(2a)に設けられたフォトダイオード(5)と、第2領域(2b)に設けられた第1発光ダイオード(3)と第2発光ダイオード(4)と、第1発光ダイオード(3)と基板(2)の一主面(2A)の上方に位置する測定対象体との間に配置され、第1発光ダイオード(3)からの光を測定対象体に照射し、正反射光の一部をフォトダイオード(5)に導く第1光学系(8)と、第2発光ダイオード(4)と測定対象体との間に配置され、第2発光ダイオード(4)からの光を測定対象体に照射し、正反射光をフォトダイオード(5)を除く領域に導くとともに散乱反射光の一部をフォトダイオード(5)に導く第2光学系(9)とを有する。
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IPC分类: