Invention Application
- Patent Title: 電界効果トランジスタ
- Patent Title (English): Field-effect transistor
- Patent Title (中): 场效应晶体管
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Application No.: PCT/JP2013/006450Application Date: 2013-10-31
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Publication No.: WO2014108946A1Publication Date: 2014-07-17
- Inventor: 田中 健一郎 , 好田 慎一 , 石田 昌宏 , 上田 哲三
- Applicant: パナソニック株式会社
- Applicant Address: 〒5718501 大阪府門真市大字門真1006番地 Osaka JP
- Assignee: パナソニック株式会社
- Current Assignee: パナソニック株式会社
- Current Assignee Address: 〒5718501 大阪府門真市大字門真1006番地 Osaka JP
- Agency: 内藤 浩樹
- Priority: JP2013-002543 20130110
- Main IPC: H01L21/338
- IPC: H01L21/338 ; H01L29/778 ; H01L29/812
Abstract:
電界効果トランジスタは、p型Si基板上に形成された、Al x Ga 1-x N(0≦x≦1)からなるコドープ層と、コドープ層の上に形成されたGaN層と、GaN層の上に形成されたAlGaN層とを備え、コドープ層は、不純物元素としてCとSiとを含み、コドープ層におけるCの不純物濃度は5×10 17 /cm 3 以上であり、コドープ層におけるSiの不純物濃度はCの不純物濃度よりも低く、GaN層におけるCの不純物濃度は1×10 17 /cm 3 以下であり、GaN層の膜厚は0.75μm以上である。
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